Test Hats

I Test Hats di  Haigh-Farr consentono di comunicare contenendo l’energia RF di un’antenna.
I Test Hats di  Haigh-Farr sono costituiti da un solido involucro di alluminio in un unico pezzo con una guarnizione EMI conduttiva dove il Test Hat è a contatto con il piano di massa e l’antenna.
In questo modo si ottiene una stretta tenuta EMI, riducendo al minimo le perdite di RF, in genere a -80 dB.
Il fattore di accoppiamento è un parametro di progettazione; tuttavia, varia da 4 dB a 30 dB, con ogni Test Hat calibrato.
I Test Hat di Haigh-Farr sono progettati per funzionare con antenne Flexislot™ e Patch a banda singola o multipla, nonché con antenne Wraparound™ a canale singolo o multiplo.